在同一张底片上,做两个不同位置的X射线照相,可以确定缺陷的深度,根据缺陷阴影的移动,相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度,这种方法称之为空间投影法。

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在同一张底片上,做两个不同位置的X射线照相,可以确定缺陷的深度,根据缺陷阴影的移动,相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度,这种方法称之为空间投影法。

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